第32回エレクトロテスト ジャパン 会期:2015年1月14日(水)~16日(金),東京

第32回エレクトロテスト ジャパン

平素は格別のご高配を賜り,厚くお礼申し上げます。
当社ブースでは高密度実装基板や電子部品の欠陥解析に威力を発揮するマイクロフォーカスX線透視装置・CTシステムなど各種評価装置をご紹介いたします。
皆様のご来場を心よりお待ちしております。

会期 2015年1月14日(水)~16日(金)
時間 10:00~18:00 ※16日(金)のみ17:00終了
会場 東京ビッグサイト 東3ホール 島津ブース 小間番号 東22-022
第32回エレクトロテスト ジャパン 公式サイト
ブースマップ

ご紹介予定装置

使いやすさと高機能をさらに極めたX線検査装置

マイクロフォーカスX線透視システム SMX-1000 Plus-VCT

マイクロフォーカスX線透視システム
SMX-1000 Plus-VCT

コンパクトな卓上型で誰でも簡単に

マイクロフォーカスX線CTシステム inspeXio SMX-100CT

マイクロフォーカスX線CTシステム
inspeXio SMX-100CT

“使いやすさ”と“美しさ”の生み出すSolution

卓上型マイクロフォーカスX線CTシステム inspeXio SMX-90CT Plus

卓上型マイクロフォーカスX線CTシステム
inspeXio SMX-90CT Plus

小間内セミナーの案内

弊社ブースにて

産業用X線透視,CT装置の最新アプリケーションのプレゼンを数回実施いたします。
同時に,外部講師による講演も予定しておりますので是非お立ち寄りください。

出展社による製品・技術セミナーのご案内

日時 : 1月15日(木)12:20~13:20
会場 : 東A会場(東3ホール)

最新のX線透視/CTシステムによる研究開発・不良解析の実例
X線による非破壊検査の基礎から応用および,電子部品,照明,蓄電池,複合材料など実際の解析事例を含め,最新のアプリケーション例をご紹介いたします。

年別一覧

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