第31回エレクトロテスト ジャパン
会期:1月15日(水)~17日(金),東京

第31回エレクトロテスト ジャパン

当社ブースでは高密度実装基板や電子部品の欠陥解析に威力を発揮するマイクロフォーカスX線透視装置・CTシステムなど各種評価装置をご紹介いたします。
皆様のご来場を心よりお待ちしております。

2014年1月15日(水)~17日(金)
東京ビッグサイト 東3ホール 島津ブース 小間番号 28-19
島津ブースのご案内

 

 

◆会 期: 2014年1月15日(水)~17日(金)
10:00~18:00 [17日(金)のみ17:00終了]
◆会 場: 東京ビッグサイト
東京都江東区有明 3-21-1
◆主 催: リード エグジビション ジャパン(株)
展示会公式サイト

ご紹介予定製品

検査・解析 評価装置

使いやすさと高機能をさらに極めたX線検査装置

 

 

最高クラスの画質と操作性を備えたX線CTシステム

 

 

小間内セミナーの案内

弊社ブースにて

産業用X線透視,CT装置の最新アプリケーションのプレゼンを数回実施いたします。 同時に,外部講師による講演も予定しておりますので是非お立ち寄りください。

MEMS・µTAS 関連デバイス

石英製チップ

PDMS製チップ

樹脂製デバイス

流体デバイス例:
カスタムデバイスについてもお気軽にご相談下さい。

PRセミナーの案内 日時 : 1月15日(水) 12:20〜13:20 会場 : 東B会場

X線透視•CTシステムによる研究開発・不良解析技術の提案

非破壊検査の基礎から応用まで幅広く、信頼性評価技術事例を説明いたします。半導体、照明、蓄電池、車載電子部品への解析技術を中心に最新のアプリケーション例を紹介致します。
※先着順となります。聴講ご希望の方は直接会場までお越しください。

年別一覧

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