第30回エレクトロテスト ジャパン
会期:1月16日(水)~18日(金),東京

第30回エレクトロテスト ジャパン

弊社は電子部品・実装基板等の微細な三次元構造を観察できるマイクロフォーカスX線CTシステムinspeXio SMX-225CTの展示,および最新のアプリケーションデーターをご紹介いたします。
また課題解決の相談等承りますので,皆様のご来場を心よりお待ちしております。
 

2013年1月16日(水)~18日(金)
東京ビッグサイト 第4ホール 島津ブース 小間番号 東51-32

 

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島津ブースのご案内
◆会 期 : 2012年1月16日(水)~18日(金)
10:00~18:00 [20日(金)のみ17:00終了]
◆会 場 : 東京ビッグサイト
東京都江東区有明 3-21-1
◆主 催 : リード エグジビション ジャパン(株)
展示会公式サイト

※ 当社では,ご案内状(主催者発行の無料招待券つき)をご用意しておりますので,
お近くの当社 支店・支社・営業所までお問い合わせ下さい。無料招待券をお持ちでない場合は,入場料(\5,000)が必要です。

展示内容

最新の透視・CT装置,撮影画像等ご紹介いたします。

マイクロフォーカスX線CT装置 inspeXio SMX-225CT

マイクロフォーカスX線CT装置 inspeXio SMX-225CT

※展示品は都合により変更される場合があります。

(左)基板コネクタピン部 はんだ充填状況/(右)BGAの観察

(左)基板コネクタピン部 はんだ充填状況/(右)BGAの観察

年別一覧

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