国際粉体工業展東京2012 会期:11月28日(水)〜30日(金)

国際粉体工業展東京2012

粉体工業展では「粉を測り,粉を生かす」をテーマに,レーザ回折式粒子径分布測定装置 SALD-2300,シングルナノ粒子径測定装置 IG-1000 Plusをはじめとして,各種粉体測定機器を出品いたします。 ぜひお立ち寄りいただきますようお願い申し上げます。

■ 会期 ■ 会場
2012年11月28日(水)~30日(金)
時間:10:00~18:00
(ただし30日(金)は10:00~17:00)
東京ビックサイト
東3ホールS-03

主催者WEBサイト

出展内容

■ 粒子径分布測定装置の新しいスタンダード

レーザ回折式粒子径分布測定装置 SALDシリーズ

 

レーザ回折式粒子径分布測定装置
SALDシリーズ

 

■ シングルナノ領域を超えてサブナノ領域に到達

 

シングルナノ粒子径測定装置
IG-1000 Plus

 

■ ステージビューワ機能により試験効率化と省力化

 

マイクロビッカース硬度計
HMV-Gシリーズ

 

■ 微粒子1粒の圧縮試験

 

微小圧縮試験機
MCT シリーズ

 

■ 比表面積・細孔分布測定装置のスタンダード

 


マイクロメリティックス社製
自動比表面積/細孔分布測定装置
トライスターII 3020シリーズ

 

■ 細孔分布測定のグローバルスタンダード

 


マイクロメリティックス社製
自動ポロシメータ
オートポアIV 9500シリーズ

 

■ ヘリウムガスを用いた乾式密度測定

 

マイクロメリティックス社製
乾式自動密度計
アキュピックII 1340シリーズ

 

■ ナノ~サブナノ領域の細孔分布測定が可能

 

マイクロメリティックス社製
高機能比表面積/細孔分布測定装置
アサップ2020シリーズ

 

■ 各種材料の流動性と熱特性の評価に最適

流動特性評価装置 フローテスターCFT-500D/100D

 

流動特性評価装置
フローテスターCFT-500D/100D

 

※ 展示内容は予告なく変更になることがございますので,予めご了承ください

製品技術説明会

■ 日時 / 場所 11月29日(木) 12:30~13:00 Cルーム
11月30日(金) 15:30~16:00 Cルーム
聴講無料,当日受付
■ テーマ ナノ粒子・微粒子測定の新たな挑戦 -分散・凝集の評価-
■ 内容 ナノ粒子・微粒子測定は,電池材料,触媒,バイオ医薬などの最先端技術開発にとって最も基本的な評価技術です。
ナノ粒子・微粒子やたんぱく質の分散・凝集の評価など,最新のシステムとアプリケーションを紹介します。

島津ブースおよび説明会会場案内

ブース案内

東京ビッグサイト 東3ホールS-03

年別一覧

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