SALD シリーズ25周年記念セミナー（in東京) 会期：7月13日(金)
拝啓 貴社におかれましては益々ご清栄のこととお慶び申し上げます。 また，平素より格別のご愛顧を賜り，厚く御礼申し上げます。 さて，弊社のレーザ回折式粒子径分布測定装置SALDシリーズは，1987年7月6日に最初のSALD-1000を発売して以来，今年で25周年をむかえます。この間の技術発展はめざましく，現在では様々な分野の多彩な用途にご活用いただけるようになりました。例えば，0.1ｐｐｍ～200,000ppm(20%)の粒子濃度範囲での測定に対応し，最短1秒間隔での連続測定が可能になり，分散・凝集・溶解などのプロセスを粒子径分布の変化として評価できるようになりました。 今回のセミナーでは，レーザ回折・散乱法の基礎と可能性について議論するとともに，二次電池の正/負極材，触媒，医薬品，化粧品，食品などの開発および品質管理にご活用いただける最新のアプリケーションを多数紹介させていただきます。また，粉体・微粒子の各種評価手法についても紹介させていただきます。 ご多忙中とは存じますが，ぜひご来場賜りますようお願い申し上げます。
敬具
主催：(株)島津製作所 分析計測事業部
| 日時・会場 | ： | 2012年7月13日（金）13:00～17:00 | お申込み受付を終了しました。 |
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島津 東京支社 2Fイベントホール
（東京都千代田区神田錦町1丁目3番地) 会場アクセス） |
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| お申込み | ： | 上記の申込フォームを利用してお申込みください。 申込み受付後，参加受付票をお送り致しますので，当日会場にご持参ください。 | |
| 参 加 費 | ： | 無料 | |
| 定員 | ： | 50名様 | |
プログラム
12:30開場・受付開始
| 時間 | 内容 |
|---|---|
| 13:00 ～14:20 |
セミナー１「粒子径測定技術の基礎と可能性」 SALDシリーズの測定原理であるレーザ回折・散乱法の基礎と可能性について議論します。また重要な測定条件である屈折率の設定手法について解説します。さらに島津独自のナノ粒子径測定手法であるIG法についても紹介します。 |
| 14:20 ～14:30 |
休憩 |
| 14:30 ～15:30 |
セミナー２「SALDシリーズの多彩なアプリケーション」 最新機種のSALD-2300では，粒子濃度範囲が0.1ppm～200,000ppm(20%)での測定に対応し，最短1秒間隔での連続測定が可能になり，従来は実現できなかったアプリケーションが可能になりました。ここでは，分散・凝集・溶解プロセスの評価など多彩かつ最新のアプリケーションを紹介します。 |
| 15:30 ～15:40 |
休憩 |
| 15:40 ～16:40 |
セミナー３「粉体・微粒子の各種評価手法」 比表面積・細孔分布測定や乾式密度測定，粒子圧縮強度など粒子径分布測定以外の粉体・微粒子評価手法とそのアプリケーションを紹介します。 |
| 16:40 ～17:00 |
質疑応答 |
お問合せ先(キャンセル・お客様変更など)
（株）島津製作所 東京支社 グローバルマーケティング部
担当：高木 （TEL：03-3219-5588／FAX：03-3219-5557）