LAB CENTER XRF-1800
波長分散型蛍光X線分析装置
世界初250μmマッピングを搭載！
XRF-1500/1700シリーズは世界に先駆けて局所分析・マッピング機能・4kW薄窓Ｘ線管を搭載し蛍光Ｘ線分析の応用分野を拡大した革命的装置として高い評価をいただきました。XRF-1800はハード・ソフトの両面から細部まで見直し、さらなる信頼性と操作性の向上、新機能の追加により高次元での完成度を達成しました。
高感度分析と局所分析のパイオニアである島津製作所が自信を持ってお届けします。
世界初の250μmマッピングを波長分散型で実現（特許取得済）
不均一試料の含有量分布、強度分布の分析ができます。
特長
高分子薄膜の膜厚測定と無機成分分析ができるバックグラウンドFP法（特許取得済）
水素の情報をコンプトン散乱／レイリー散乱の強度比を利用して計算できます。高分子薄膜の情報としてコンプトン散乱線の理論強度を利用できます。
液体・粉体・固体・金属・酸化物など試料の形態に応じて条件が用意されていますのでそれを元に最適な条件を作成することができます。異材判定・品種分類・品種判定・一致検索の4種類のマッチング機能により判定、検索が可能です。 ※外観および仕様は改良のため、予告なく変更することがあります。
測定室導入位置で試料容器を測定位置と同じポジショニングを行ってから画像を取り込む事により測定位置と画像をあわせることができます。（特許出願中）
アプリケーション
試料は希土類鉱石(Bastnasite)です。赤い円が30mm径のマッピング分析範囲です。 LaとCeは同一の分布をしていますがCaとBaはそれぞれ別の分布をしています。したがってこの試料には少なくとも3種類の鉱物が含まれていることがわかります。
1次線プロファイルではMgKαとCaKαの3次線が重なります。 高次線プロファイルでは高次線がより強調されますのでCaKαの3次線がより強く表示されています。 高次線の影響が一目で確認できます。 （右図中 青色が1次線、赤色が高次線）
- 塗装鋼板の測定例
- フィルムコンデンサの測定例