LAB CENTER XRF-1800

波長分散型蛍光X線分析装置

XRF-1800による希土類鉱石のマッピング例

XRF-1800による希土類鉱石のマッピング例01

試料は希土類鉱石(Bastnasite)です。赤い円が30mm径のマッピング分析範囲です。

LaとCeは同一の分布をしていますがCaとBaはそれぞれ別の分布をしています。したがってこの試料には少なくとも3種類の鉱物が含まれていることがわかります。

XRF-1800による希土類鉱石のマッピング例02

Ba

XRF-1800による希土類鉱石のマッピング例03

Ce

XRF-1800による希土類鉱石のマッピング例04

La

XRF-1800による希土類鉱石のマッピング例05

Ca

XRF-1800によるブレーキパッドの分析例

1次線プロファイルではMgKαとCaKαの3次線が重なります。

高次線プロファイルでは高次線がより強調されますのでCaKαの3次線がより強く表示されています。

高次線の影響が一目で確認できます。

(右図中 青色が1次線、赤色が高次線)

XRF-1800による膜厚測定、薄膜測定例

塗装鋼板の測定例

塗装鋼板の測定結果

塗装鋼板の測定例結果

塗装膜測定イメージ

塗装膜測定イメージ

フィルムコンデンサの測定例

フィルムコンデンサの測定結果

フィルムコンデンサの測定結果

金属化フィルムコンデンサ測定イメージ(誘電体/金属薄膜/絶縁皮膜)

フィルムコンデンサ測定イメージ

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