EDX-LE

エネルギー分散型蛍光X線分析装置

RoHS/ELVスクリーニングに必要な機能を標準装備

EDX-LEでは,RoHS/ELVスクリーニング分析に必要な機能をすべて標準搭載しており,ユーザーは特別なオプションなしで最適なRoHS/ELV分析システムを手に入れることができます。

照射径絞リコリメータ&観察カメラを標準装備

異物を測定する場合や,複数の部位からなる試料を測定する場合,試料観察カメラを使用すれば,カメラの画像を確認しながら分析位置を簡単に設定することができます。試料サイズが小さい場合や試料中のある特定箇所だけを測定する場合はコリメータを使用し,X線照射領域を変更できます。

10mmφ画像(樹脂)

3mmφ(金属)

形状補正機能

同じ含有量の試料でも,形状や厚みが異なる場合,X線強度が変化し,得られる定量値は影響を受けてしまいます。EDX-LEではBG内標準法を用いることで,形状や厚さの影響を排除できるため,精度良い結果が得られます。
※BG内標準法:各元素の蛍光X線強度を散乱X線強度で規格化して補正する方法

BG内標準補正あり/なしでの定量結果の比較

測定結果は一覧表で管理

一覧表作成機能
保存済みデータをExcel®形式で一覧表示できます。

※ 一覧表作成機能をご利用いただくには別途Microsoft Excel®をご用意ください。
※ Excel®はMicrosoft社の登録商標です。

有害物質規制(RoHS/ELV指令)のページへ

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