SFT-4500

ナノサーチ®顕微鏡 (Nano Search® Microscope)

ガイダンス画面に従って迷わず操作できる6つのSPM測定モード

さまざまな試料に対応する3種類の標準モード

■コンタクトモード
カンチレバーと試料間で働く斥力が一定になるように制御しながらカンチレバーを静的に走査し,試料の高さを画像化します。フォースカーブ測定も可能です。

コンタクトモード

■ダイナミックモード
カンチレバーを共振周波数付近で振動させ,振幅が一定になるようにZ方向の距離を制御することで,試料の高さを画像化します。特に高分子化合物のように表面が柔らかい試料や粘着性のある試料に適しています。

ダイナミックモード

■位相モード
ダイナミックモードで走査中に,カンチレバー振動の位相遅れを検出します。試料表面の物性の違いを画像化できます。

位相モード

さらに3種類のオプションモードを加え,多様な解析をサポート

■電流モード
試料にバイアス電圧を印加し,カンチレバーと試料間に流れる電流を検出し,画像化します。また,I/V測定も可能です。

電流モード

■表面電位(KFM)モード
導電性のカンチレバーを用いて交流電圧を印加し,カンチレバーと試料表面間に働く静電気力を検出し,試料表面の電位を画像化します。KFM(Kelvin Force Microscope)とも呼びます。

表面電位(KFM)モード

■磁気力(MFM)モード
磁化されたカンチレバーを位相モードにて走査し,振動しているカンチレバーの位相遅れを検出し,試料表面の磁気情報を画像化します。MFM(Magnetic Force Microscope)とも呼びます。

磁気力(MFM)モード

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