SFT-4500

ナノサーチ®顕微鏡 (Nano Search® Microscope)

SFT-4500が実現する新たなソリューション

プローブ顕微鏡による観察・測定でこんな経験はありませんか?

1.観察対象をプローブ顕微鏡では見失ってしまう。

観察したいポイントを観察用の光学系で見つけても,SPM観察に切り替えて観察すると狙ったポイントの画像がとれない。

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電動レボルバによる倍率,観察方法の切り替え

電動レボルバによる倍率,観察方法の切り替え

 SFT-4500なら 

捉えたターゲットはもう逃さない。
ナノをサーチする新しい顕微鏡。


低倍から高倍観察をカバーする4本の対物レンズとSPMユニットを電動レボルバに搭載。倍率,観察方法をシームレスに切り替えることができ,観察対象を見失いません。まさにナノをサーチできる顕微鏡です。

2.観察対象が見つからない。

従来のプローブ顕微鏡に搭載されている光学系は倍率が低いため,ウエハや結晶の表面にある微小な欠陥を見つけられない,または見つけるのに非常に時間がかかる。

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 SFT-4500なら 

低倍から高倍をカバーし,さらに多彩な観察法で観察対象を素早く発見。

低倍から高倍まで幅広い倍率で観察が可能。さらに高度な光学技術に裏付けられた光学顕微鏡の多彩な観察方法で観察対象を容易に発見することができます。また光学顕微鏡では見えない観察対象をレーザー顕微鏡で見つけることもできます。レーザー微分干渉(DIC)観察ではナノレベルの微小凹凸のライブ観察も可能です。

低倍から高倍をカバーし,さらに多彩な観察法で観察対象を素早く発見。

3.目的の画像を取得するまでの時間をもっと短くしたい。

他の装置で観察対象を見つけてもプローブ顕微鏡に試料を載せ替えると、何度も走査をしないと目的の画像が取得できない。そのため時間が非常にかかってしまう。

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 SFT-4500なら 

試料セットから画像取得まで,作業時間を短縮。

試料をセットしてから全ての操作が1台の装置で行えます。観察対象を素早く,正確にSPM顕微鏡下にもってくることができるため,短時間で目的のSPM画像が取得できます。

試料セットから画像取得まで,作業時間を短縮。

4.試料の評価のために,種類が違う顕微鏡を別々に使わなければならない。

それまで扱った経験のない試料を評価する場合,異なる種類の顕微鏡を別々に試さなければならない。

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一体型だから,試料を載せ替えることなく倍率,観察方法を変えて1台でフレキシブルに対応。
 SFT-4500なら 

一体型だから,試料を載せ替えることなく倍率,観察方法を変えて1台でフレキシブルに対応。

光学顕微鏡,レーザー顕微鏡,プローブ顕微鏡の一体型のため,試料を載せ替えることなく3つの顕微鏡を自在に切り替えて観察,評価が可能です。それぞれが優れた機能を持ち,効率良く最適なアウトプットを得ることができます。

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