コンタミネーションの影響

IG資料館

3.コンタミネーションの影響

粒子径の測定は実験室などの測定現場で行われます。サンプルを丁寧に扱っていても、粗大粒子や空気中のゴミ(コンタミネーション)の微量の混入は避けられません。したがって測定装置においてコンタミネーションが測定に及ぼす影響は重要な性能の一つと考えることができます。

新しい測定技術であるIG法は回折光を使用しています(散乱光を使用しません)。同一体積の粒子から生じる回折光信号強度(回折光強度の平方根)は粒子径に依存しないため、微量の粗大粒子の影響をほとんど受けることがありません。

一方、同一体積の粒子から生じる散乱光強度はおおむね粒子径の3乗に比例します。したがって大きな粒子からの散乱光は非常に強く、微量の粗大粒子は測定に大きな影響を及ぼします。

表1に各測定技術における信号量と粒子径の関係を示します。

表1. 信号量と粒子径の関係

測定技術\粒子径 1nm 100nm
IG法 1 1
光散乱法 1/1,000,000 1
*同一体積の粒子から生じる全信号量の比較

そこでIG法において粗大粒子が測定に及ぼす影響を調べるため、46nmの粒子に1μmの粒子を混合したサンプルを作成してIG-1000 Plusで測定を行いました。混合の比率は、46nmの粒子約80万個に対して1μmの粒子が1個の割合です。測定結果をグラフ1 に示します。

粗大粒子を混入しない場合と比較して、混入による影響をほとんど受けていないことがわかります。この耐コンタミネーション性は回折光を利用するIG法の優れた特徴のひとつです。このようにIG-1000 Plusは粗大粒子の混入に対して強く、実際の作業環境におけるデータの安定性、サンプルの扱いやすさにおいて大きなアドバンテージがあります。

○:混入なし
:混入あり

グラフ1. 粗大粒子混入サンプル測定結果

グラフ1.粗大粒子混入サンプルの測定結果
(ポリスチレンラテックス46nm に 1μmを微量混入)

(参考)
散乱光の性質上、サンプル粒子より20倍大きいゴミが80万分個に1個の割合で混入すると、サンプル粒子からの散乱光の約80倍の散乱光がゴミから発生し、測定に大きな影響を及ぼすと考えられます。

アプリケーション

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※外観および仕様は改良のため、予告なく変更することがあります。


特長測定データ:アプリケーション:仕様

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