シングルナノ粒子の繰り返し再現性

IG資料館

2.シングルナノ粒子の繰り返し再現性

IG-1000 Plusはシングルナノ領域(10nmより小さい粒子径領域)におけるデータの再現性が良い点が、特長のひとつです。それはIG法では、粒子径が小さくなるにつれて急激に強度が減少する散乱光を使用せず、信号強度が粒子径に依存しない回折光を使用するためです。

そこでIG-1000 Plusを用いてシングルナノ粒子を含む 市販のシリカ粒子(ラベル径 5nm ~ 25nm)を測定し、その測定結果をグラフ1に示します。
測定のばらつきを示すCV値*(印)は、全ての粒子径で10%以下であり、測定の再現性が高いことがわかります。とくに10nm以下においても再現性は良好であり、IG-1000 Plusのシングルナノ粒子径領域における再現性の高さを示しています。

ポリスチレンラテックス標準粒子の測定結果

グラフ1.シリカ粒子の測定結果

*ラベル径の値付けは比表面積法によります。
*平均径は5回測定の平均値
*CVはデータのばらつき度合いを示します。  CV = 標準偏差/平均値 (5回測定)

アプリケーション

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※外観および仕様は改良のため、予告なく変更することがあります。


特長測定データ:アプリケーション:仕様

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