ポリスチレンラテックス粒子の測定

1.ポリスチレンラテックス粒子の測定

従来の散乱光を使う方法とは異なり、検出信号に回折光を使用することから、粒子径が小さいナノ粒子の領域においても検出信号が微弱になることがなく高い再現性を得ることができるのがIG法の特長の一つです。

このIG-1000 Plusを用いて、標準サンプルとして広く使用されているポリスチレンラテックス粒子を測定しました。測定にはラベル径(平均径)が33nm~97nmのポリスチレンラテックス粒子を使用しました。測定結果をグラフ1に示します。

IG-1000 Plusで測定された平均径(印)は、標準粒子に与えられたラベル径と良く一致しています。
また測定のばらつきを示すCV値*(印)は、全ての粒子径で10%以下であり、粒子径が小さくなっても再現性が良好に保たれています。粒子径が小さくなっても再現性が良いのがIG法の特長です。

ポリスチレンラテックス標準粒子の測定結果

グラフ1.ポリスチレン標準粒子の測定結果

*粒子は粒子はDuke Scientific社製(ラベル径はNISTトレーザブル)
*平均径は5回測定の平均値
*CVはデータのばらつき度合いを示します。
CV = 標準偏差/平均値 (5回測定)

アプリケーション

  1. ポリスチレンラテックス粒子の測定
  2. シングルナノ粒子の繰り返し再現性 >>
  3. コンタミネーションの影響 >>
  4. シングルナノ粒子の測定例 >>
  5. 混合ナノ粒子の測定 >>
  6. IG-1000 Plusによるリポソームの測定 >>
  7. IG-1000 Plusによる硫化亜鉛(ZnS)の測定 >>
  8. 色素増感型太陽電池に使われるナノ粒子の測定 >>
  9. 磁性体ナノ粒子の測定 >>
  10. 顔料インクナノ粒子の測定 >>
  11. 燃料電池に使われるナノ粒子の測定 >>
  12. 日焼け止めに使われるナノ粒子の測定 >>
  13. 自動車触媒に使われるナノ粒子の測定 >>
  14. カーボンブラックナノ粒子の測定 >>


※外観および仕様は改良のため、予告なく変更することがあります。


特長測定データ:アプリケーション:仕様

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