SALD-HCシリーズ

SALDシリーズ用高濃度サンプル測定システム

レーザ回折・散乱法による高濃度測定の原理

  • 測定原理は粒度分布測定手法の主流となっているレーザ回折・散乱法です。
  • 基本的な考え方は、通常のフローセルおよび回分セルを用いる場合の測定と全く同じです。
  • 薄いガラス板(スライドグラス)にサンプルを挟み込み、これにレーザ光を照射して測定を行います。

●測定原理図

測定原理図

高濃度でサンプルを測定する場合、通常の回分セルやフローセルを用いると光路長が長くなり多重散乱が発生して正確な測定ができません。

そこで2枚のガラス板(スライドグラス)でサンプロを挟み込み、徹底的に光路長を短くすることによって、多重散乱の悪影響が回避でき、正確な測定を可能にしました。

●光路長を短くして多重散乱を回避

通常の回分セルおよびフローセルを用いた場合   2枚のガラス板でサンプルを挟んだ場合
通常の回分セルおよび
フローセルを用いた場合
2枚のガラス板で
サンプルを挟んだ場合
 
●側方散乱光の検出 
側方散乱光の検出

また、光軸に対して斜めにサンプルを配置することにより、側方散乱光の検出も可能になりました。
 
これを、前方および後方の散乱光とともに粒度分布計算に用いることにより、サブミクロン領域での高濃度サンプル測定が可能となったのです。(SALD-300V、SALD-200V ER の場合は、側方・後方センサはありません。)

 

※外観および仕様は改良のため、予告なく変更することがあります。

特長:測定原理:システム構成/付属品

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