FTIR TALK LETTER vol.24

2015年春発行 (5月15日時点の希望会員様向けに6月8日発送)

主な内容

  • FT-IRによる高分子材料関連物質の成分分析および異物分析技術
    合同会社 IR分析研究所 所長:谷川征男
    FT-IRスペクトル分析の高分子材料分野での有効利用の一端を紹介します。異物分析においても,異物がプラスチック工業関連化成品の混合物であることから,材料分析と大きな違いはありません。差スペクトル法を利用した分析手法は異物,混入物分析でもそのまま適用できます。
  • FTIRに使用されるレーザーについて(2) −He-Neレーザーと半導体レーザーの比較−
     弊社 技術者 和久田 真也
    一般的なFTIRにはHe-Neレーザーが使用されていますが,近年では半導体レーザーを使った低価格/小型のFTIRが登場してきました。このような低価格/小型のFTIRに採用されている半導体レーザーの原理や課題を,He-Neレーザーと比較して解説します。
  • スペクトル検索のコツその1 —複合検索の活用—
     弊社 技術者 谷口 博和
    スペクトル解析の検索機能である「複合検索」は,「スペクトル検索」と「テキスト検索」を組み合わせた機能です。異物分析など不明な物質を調べる際に便利な機能で,これを適宜活用することで効率的な同定作業が行えます。複合検索の事例や留意点などを解説します。
  • 「Q&A」 一致度計算について教えてください。
  • 新製品情報
    分光蛍光光度計 RF-6000

 

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