放射率測定システム

FTIR本体の干渉計側面の平行光取出し口へ装置外部の光源または加熱した試料から発生する赤外光を導入し，そのスペクトル強度分布を測定する付属装置です。この付属装置を用いて，加熱試料および試料と同じ温度の黒体炉の放射赤外光の強度分布を測定し，その比を計算することによって，試料の各波長における放射率（輻射率）を求めることが可能となります。 測定可能温度範囲は200℃以上です。また試料の表面温度を安定化させるため，試料は平板形状を推奨します。