自動不良解析システム

電子部品の端子に付着した異物の分析事例です。
広視野カメラを用いることで，部品全体の観察から測定箇所の決定まで，スムーズに行うことができます。薄いシミや小さい異物など，反射測定で良好なスペクトルが得られにくい場合には，ATR法（Geプリズム）などが有効です。

長期間，日光に曝された樹脂部品の分析事例です。
部品断面の赤外スペクトルを測定することにより，表面から深さ方向について劣化の進行度合いを可視化することができます。

医薬品錠剤の表面に付着した異物の分析事例です。
ダイヤモンドセルに採取して圧延することで，さまざまな形状の試料について透過測定を行うことができます。

フィルムの偏光分析事例です。
赤外偏光子を用いることにより，フィルムの偏光特性や配向性などを評価することができます。