検索結果

型式名
製品名
製造終了年月
補修部品の供給期間
S・SD シリーズ
オートグラフ
1985年
1992年
S-140
セル温度コントローラ(分光光度計用)
2000年12月
2010年12月
S-260
セル温度コントローラ(分光光度計用)
2000年12月
2010年12月
SA-2
粉体分布測定装置
2003年12月
2010年12月
SAC40-10シリーズ
コロニーカウンタ
1993年3月
2000年3月
SA-CP2
粉体分布測定装置
1991年12月
1998年12月
SA-CP3
粉体分布測定装置
1999年4月
2006年4月
SA-CP4
粉体分布測定装置
2001年8月
2008年8月
SALD-200V
レーザ回折式粒度分布測定装置
1999年4月
2006年4月
SALD-200V ER
レーザ回折式粒度分布測定装置
2023年3月
2030年3月
SALD-1100
粉体分布測定装置
1991年3月
1998年3月
SALD-2000A
粉体分布測定装置
1996年7月
2003年7月
SALD-2000
粉体分布測定装置
1996年7月
2003年7月
SALD-2000J
粉体分布測定装置
1998年9月
2005年9月
SALD-2100
粉体分布測定装置
2004年5月
2011年5月
SALD-2200
レーザ回折式粒子径分布測定装置
2012年3月
2019年3月
SALD-3000
粉体分布測定装置
1996年10月
2003年10月
SALD-3000S
粉体分布測定装置
2002年4月
2009年4月
SALD-300V
粒子径分布測定装置
2017年8月
2024年7月
SALD-3100
レーザ回折式粒度分布測定装置
2017年8月
2024年7月
SALD-7100
ナノ粒子径分布測定装置
2013年7月
2020年7月
SALD-AC30
SALD-3000シリーズ用非循環式サンプラ
2016年3月
2023年2月
SAX-10
X線検査装置
1995年5月
2002年5月
SBCシリーズ
小型環境創造装置
1993年3月
2000年3月
SCAシリーズ
小型環境創造装置
1991年2月
1998年2月
SCL-10A
システムコントローラ
1998年7月
2005年7月
SCL-10Asp
システムコントローラ
2004年8月
2011年8月
SCL-10Avp
システムコントローラ
2013年12月
2023年12月
SCL-6B
システムコントローラ
1993年8月
2000年8月
SCLAM-2000
全自動 LCMS 前処理装置
2018年11月
2025年11月
SFT-9800
走査型プローブ顕微鏡
2003年9月
2010年9月
SFT-4500
ナノサーチ顕微鏡
2020年7月
2027年7月
SGM-300P/-2000P
比重測定装置
2003年11月
2010年11月
SHC-1
細胞培養装置
2000年6月
2007年6月
SHC-2
細胞培養装置
2000年6月
2007年6月
SID-14
表面電離ディテクタ(ガスクロマトグラフ用)
2005年9月
2012年9月
SIL-10ADvp
オートサンプラ
2004年9月
2011年9月
SIL-10ADvp/サンプルクーラ
オートサンプラ
2004年9月
2011年9月
SIL-10AXL
オートサンプラ
1998年7月
2005年7月
SIL-20ACHT
オートサンプラ
2020年4月
2027年4月
SIL-20ACHT UFLC
オートサンプラ
2020年4月
2027年4月
SIL-20ACXR
オートサンプラ
2020年4月
2027年4月
SIL-20AHT
オートサンプラ
2020年4月
2027年4月
SIL-20AHT UFLC
オートサンプラ
2020年4月
2027年4月
SIL-20AXR
オートサンプラ
2020年4月
2027年4月
SIL-30AC
オートサンプラ
2020年4月
2027年4月
SIL-6B
オートサンプラ
1993年8月
2000年8月
SIL-HTA
オートサンプラ
2011年5月
2021年5月
SIL-HTC
オートサンプラ
2011年5月
2021年5月
SIT-2
自然発火試験装置
2010年9月
2017年9月
SLDX-1500PB/WP
X線異物検出装置
2003年12月
2010年12月
SLDX-2000XAS-WP/HP
X線異物検出装置
2003年3月
2010年3月
SLDX-200PB/DP
X線異物検出装置
2000年6月
2007年6月
SLDX-2050XAS
X線異物検出装置
2007年12月
2014年12月
SLDX-2050XAS-U
X線異物検出装置
2009年12月
2016年12月
SLDX-2050XAS-V
X線異物検出装置
2011年9月
2018年9月
SLDX-2055XAS
X線異物検出装置
2007年12月
2014年12月
SLDX-2055XAS-U
X線異物検出装置
2009年12月
2016年12月
SLDX-2055XAS-V
X線異物検出装置
2011年9月
2018年9月
SLDX-5000XAS-V
X線異物検出装置
2011年9月
2018年9月
SLDX-500PB/DP
X線異物検出装置
2002年10月
2009年10月
SLX-125
X線異物検出装置
1997年1月
2004年1月
SM-30
固体試料原子吸光測定システム
1992年4月
2002年4月
SMV-200シリーズ
ムーニービスコメーター 
1987年8月
1994年8月
SMV-201シリーズ
ムーニービスコメーター 
2001年6月
2008年6月
SMV-202シリーズ
ムーニービスコメーター 
2001年6月
2008年6月
SMV-300/300RT
ムーニービスコメータ
2015年4月
2022年4月
SMX-100
X線検査装置
2003年9月
2010年9月
SMX-1000/1000L
マイクロフォーカスX線透視装置
2013年6月
2020年6月
SMX-100CT
マイクロフォーカスX線CTシステム
2012年7月
2019年7月
SMX-100F
X線検査装置
2003年9月
2010年9月
SMX-125V
X線検査装置
1999年3月
2006年3月
SMX-130
X線検査装置
2008年10月
2015年10月
SMX-130CT
マイクロフォーカスX線CTシステム
2012年7月
2019年7月
SMX-130F
X線検査装置
2008年10月
2015年10月
SMX-15
X線検査装置
1999年3月
2006年3月
SMX-160CT
マイクロフォーカスX線CTシステム
2012年7月
2019年7月
SMX-160E
X線検査装置
2002年9月
2009年9月
SMX-160EⅡ
X線検査装置
2008年10月
2015年10月
SMX-160ET
X線検査装置
2002年12月
2009年12月
SMX-160GT
マイクロフォーカスX線透視装置
2012年9月
2019年9月
SMX-160GT-PCT
縦型CTユニット搭載型マイクロフォーカスX線透視装置
2011年9月
2018年9月
SMX-160GT-PVCT
縦型CTユニット搭載型マイクロフォーカスX線透視装置
2011年9月
2018年9月
SMX-160GT-VCT
縦型CTユニット搭載型マイクロフォーカスX線透視装置
2011年9月
2018年9月
SMX-160LT
マイクロフォーカスX線透視装置
2012年9月
2019年9月
SMX-160V
X線検査装置
1999年7月
2006年7月
SMX-2000
マイクロフォーカスX線透視装置
2018年9月
2025年5月
SMX-225CT-SV3
マイクロフォーカスX線CTシステム
2008年1月
2015年1月
SMX-25
X線検査装置
1998年12月
2005年12月
SMX-30
X線検査装置
1999年6月
2006年6月
SMX-30CT
X線検査装置
1999年6月
2006年6月
SMX-31
X線透視検査装置
2007年5月
2014年5月
SMX-3500
X線透視装置
2011年9月
2018年9月
SMX-80
X線検査装置
2003年9月
2010年9月
SMX-80F
X線検査装置
2003年9月
2010年9月
SMX-1000 Plus
マイクロフォーカスX線透視装置
2023年5月
2030年4月
SMX-1000L Plus
マイクロフォーカスX線透視装置
2023年5月
2030年4月
SOA-307/SOA-307Dx
赤外線式二酸化硫黄測定装置
2019年5月
2026年5月
SOA-7000
ポータブル二酸化硫黄測定装置
2019年4月
2026年4月
SPB-H1
携帯式光合成蒸散測定装置
1993年11月
2000年11月
SPB-H2
携帯式光合成蒸散測定装置
1993年11月
2000年11月
SPB-H3
携帯式光合成蒸散測定装置
1993年11月
2000年11月
SPB-H4
携帯式光合成蒸散測定装置
1997年7月
2004年7月
SPB-H4A
携帯式光合成蒸散測定装置
1997年7月
2004年7月
SPCA-6210
土壌・作物体総合分析計
2020年10月
2027年10月
SPCA-626
土壌・作物体総合分析計
1985年8月
1995年8月
SPCA-626D
土壌・作物体総合分析計
1995年9月
2005年9月
SPD-10A
UV-VIS検出器
1998年7月
2005年7月
SPD-10AV
UV-VIS検出器
1998年7月
2005年7月
SPD-10Avp
UV-VIS検出器
2004年8月
2011年8月
SPD-10AVvp
UV-VIS検出器
2004年8月
2011年8月
SPD-20A UFLC
UV-VIS検出器
2020年4月
2027年4月
SPD-20AV
UV-VIS検出器
2020年4月
2027年4月
SPD-6A/6AV
UV-VIS検出器
1992年10月
1999年10月
SPD-M10A
フォトダイオードアレイ検出器
1996年1月
2003年1月
SPD-M10AV
フォトダイオードアレイ検出器
1996年1月
2003年1月
SPD-M10Avp
フォトダイオードアレイ検出器
2004年8月
2011年8月
SPD-M20A
フォトダイオードアレイ検出器
2020年4月
2027年4月
SPD-M6A
フォトダイオードアレイ検出器
1992年10月
1999年10月
SPL-14
スプリット/スプリットレス試料導入装置(ガスクロマトグラフ用)
2006年3月
2013年3月
SPL-G9
スプリット/スプリットレス試料導入装置(ガスクロマトグラフ用)
2006年3月
2013年3月
SPM-8000FM
高分解能走査型プローブ顕微鏡
2017年6月
2024年6月
SPM-9500
走査型プローブ顕微鏡
1997年9月
2004年9月
SPM-9500J
走査型プローブ顕微鏡
1999年7月
2006年7月
SPM-9500J2
走査型プローブ顕微鏡
2001年7月
2008年7月
SPM-9500J3
走査型プローブ顕微鏡
2005年10月
2012年10月
SPM-9600
走査型プローブ顕微鏡
2010年12月
2017年12月
SPM-9700
走査型プローブ顕微鏡
2016年9月
2023年9月
SPX-10
X線検査装置
1997年11月
2004年11月
SPX-1110D
プリント基板穴明装置
2003年5月
2010年5月
SPX-1220D
プリント基板穴明装置
2003年5月
2010年5月
SPX-1220L
プリント基板穴明装置
2003年5月
2010年5月
SPX-1229D
プリント基板穴明装置
2001年5月
2008年5月
SPX-2100D
プリント基板穴明装置
1997年1月
2004年1月
SPX-3100D
プリント基板穴明装置
1997年1月
2004年1月
SS-100
比表面積測定装置
2004年5月
2011年5月
SS-550/SSX-550
走査電子顕微鏡
2009年9月
2016年9月
SSH-1
細胞融合装置
1993年3月
2000年3月
SSH-10
細胞融合装置
1997年1月
2007年1月
SSH-2
細胞融合装置
1997年1月
2007年1月
SSPM-100
浮遊粒子サンプラ
2020年1月
2027年1月
SSX-35
X線検査装置
1995年5月
2002年5月
STABLO-EX
電子天びん用イオナイザ
2016年2月
2023年2月
STシリーズ
差動トランス式伸び計
2017年7月
2024年7月
SXF-1200BF
蛍光X線分析装置
1994年
2001年

上記にて見つからない場合は、営業連絡窓口 までお問合せ下さい。

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