光閉じ込め効果の確認
光閉じ込め効果の確認
テクスチャ形成多結晶Siウェハの反射率測定
結晶Si太陽電池は入射光の取り込み効率を高めるためにSiウェハ表面にテクスチャが形成されており、さらに入射した光のSiウェハ表面における反射を抑制するために反射防止膜が成膜されています。
ここではテクスチャ形状(正常品、不良品の2種類)が異なる多結晶Siウェハの反射率のデータを紹介します。
【本測定の反射率はフッ素系樹脂白板を100%基準とした相対反射率です。表面が平滑な鏡面ウェハを用いればX-Yステージによる自動マッピング測定が可能です】
本結果より、テクスチャ形状正常品は不良品よりの可視光領域においてより効果的に反射率が抑えられており、光吸収の効果がより高いことが分かります。
