酸化チタン微粒子の比表面積・細孔分布測定

酸化チタン微粒子の比表面積・細孔分布測定

トライスターII 3020による色素増感電極材料の酸化チタン比表面積/細孔分布測定

ガス吸着法は、大きさや性質が既知であるガス分子を、固体表面に吸着させ、吸着したガス分子の量を測定し、比表面積や細孔分布を求める方法です。
トライスターII 3020では窒素ガスで0.01m2/gまでの比表面積、さらにクリプトンガスを用いることで0.001m2/gまでの低比表面積の測定が可能です。また、直径約1~100nmまでのメソポア細孔分布測定が可能です。
以下に、トライスターII 3020による酸化Ti微粒子の比表面積・細孔分布測定結果を示します。

自動比表面積・細孔分布測定装置 トライスターII 3020シリーズ

自動比表面積・細孔分布測定装置 トライスターII 3020シリーズ

トライスターII 3020シリーズは、3ポート独立同時測定することにより、比表面積・細孔分布測定の処理量を飛躍的にアップさせる事が可能なシステムです。標準形モデルに加え、クリプトン対応形モデルもご用意しています。この場合クリプトンガスを用いることによって、0.001m2/gまでの低比表面積測定が可能となり、より応用範囲が広くなります。

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