表面汚染:電子部品の端子に付着した異物の分析

電子部品の端子に付着した異物の分析

電子部品の端子に付着した異物の分析事例です。反射法で測定し,スペクトルからケイ酸塩と同定されました。

広視野カメラを用いることで,部品全体の観察から測定箇所の決定まで,スムーズに行うことができます。薄いシミや小さい異物など,反射測定で良好なスペクトルが得られにくい場合には,ATR法(Geプリズム)などが有効です。

自動不良解析システム

赤外スペクトルは分子振動に基づいたパターンを与え,試料の構造情報が得られます。赤外顕微鏡と組み合わせることにより,10μm程度までの微小異物解析を行います。
 

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