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テーマ |
| 13:30〜14:10 |
高温加熱及び完全なウェット観察（含水，含油）を実現するIn-situ SEMの紹介
FEI社のQuantaシリーズでは今まで観察ができなかった含水，含油試料の観察や水分を含ませることにより形状変化する試料の観察が可能です。 また，高温加熱ステージを用いた試料の加熱観察も実現します。 これらの観察は，静止画のみならず，動画でのデータ取得が可能です。 今回はこれらのアプリケーションを含め，装置のご紹介をいたします。 |
| 14:20〜15:00 |
多様なアプリケーション対応デュアルビーム（SEM-FIB）装置の紹介
FEI社のデュアルビーム装置（SEMとFIBの複合機）はFIBにて行う試料の断面加工をリアルタイムSEM像観察が可能です。 これにより，表面に埋もれた微小な欠陥，異物を逃すことなく断面を露呈し観察及び元素分析ができます。 さらにTEM試料作成においても最適な作成法やダメージの少ない高品位なTEM試料を提供することが可能です。 本講演ではこのデュアルビーム装置の特長および様々なアプリケーション例のご紹介をいたします。
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| 15:20〜16:00 |
ラマン分光による材料解析
ラマン分光は，サブミクロンオーダーの空間分解能で試料の分子構造・結晶構造分析，組成分析等にとても有用です。 本講演では，ラマン分光の基礎，ハイスピードラマンイメージング，電機・電子材料のアプリケーションについてご紹介をいたします。 |
| 16:10〜16:50 |
世界最速演算CTによる三次元解析，製造検証
産業用X線CT装置は熱サイクル評価試験，樹脂成型製造検証，微細加工測定など様々な分野で活躍しています。 革新技術による観察応用事例を豊富に取りあげ解説いたします。 また，世界最速のCT演算システムについてもご紹介をいたします。 |
セミナーテーマ 開場 13:00
