SALD-7100
ナノ粒子径分布測定装置
世界に先駆けて紫外線半導体レーザー採用!!
ナノ粒子を測定するために、独創・進化を遂げたナノ粒子径分布測定装置です。 ナノテクノロジー、ライフサイエンス、マイクロバブル・ナノバブルなど、最先端の技術開発・製品開発をサポートします。
ナノ粒子を測定するために、独創・進化を遂げたナノ粒子径分布測定装置です。 ナノテクノロジー、ライフサイエンス、マイクロバブル・ナノバブルなど、最先端の技術開発・製品開発をサポートします。
特長
1.最小10nmまでのナノ粒子を簡単に測定できます。
10nm~300μmの全測定範囲を、ひとつの測定原理・ひとつの光学系・ひとつの光源でカバーし、完全にシームレスなシングルワイドレンジを実現しました。複数光学系の組み合わせによるデータの不連続が発生せず、ひとつのスタンダードで全測定範囲にわたって、常に正確な粒度分布を測定することができます。
測定対象や測定目的に応じてオプションを選択し、多彩なシステム構成が実現できます。
10nm~300μmの全測定範囲を、ひとつの測定原理・ひとつの光学系・ひとつの光源でカバーし、完全にシームレスなシングルワイドレンジを実現しました。複数光学系の組み合わせによるデータの不連続が発生せず、ひとつのスタンダードで全測定範囲にわたって、常に正確な粒度分布を測定することができます。
測定対象や測定目的に応じてオプションを選択し、多彩なシステム構成が実現できます。
| 名 称 | 型 名 | P/N |
| 多機能サンプラ | SALD-MS71 | 347-60711-10 |
| 回分セル | SALD-BC71 | 347-60712 |
| 高濃度サンプル測定システム | SALD-HC71 | 347-60713-10 |
2.最短1 秒間隔で粒度分布・粒子径の変化を連続測定できます。
ナノ粒子の分散・凝集・溶解の反応過程を最短1秒間隔で連続測定し、その結果を保存することができます。さらに、粒子の反応過程を統計処理、三次元表示などの機能を使って多角的に分析・評価することができます。(連続測定ソフトウェアWingSALD-7100 CM(オプション)を使用した場合)
ナノ粒子の分散・凝集・溶解の反応過程を最短1秒間隔で連続測定し、その結果を保存することができます。さらに、粒子の反応過程を統計処理、三次元表示などの機能を使って多角的に分析・評価することができます。(連続測定ソフトウェアWingSALD-7100 CM(オプション)を使用した場合)
3.高濃度サンプルを希釈することなく粒度分布を測定できます。
希釈をすることで粒度分布が変化してしまうようなサンプルでも、原液のまま、あるいは必要最低限の希釈をするだけで測定が可能なため、より正確な測定をすることができます。例えば、市販のハンドクリーム、乳液、リンスなどをほぼそのままの状態で測定できます。
希釈をすることで粒度分布が変化してしまうようなサンプルでも、原液のまま、あるいは必要最低限の希釈をするだけで測定が可能なため、より正確な測定をすることができます。例えば、市販のハンドクリーム、乳液、リンスなどをほぼそのままの状態で測定できます。
4.多彩なデータ処理機能とシンプルでスピーディーな操作性を同時に実現。
目的と処理内容に応じて測定機能、データ処理機能、統計処理機能の3つのWing(サブプログラム)に分割し、シンプルなメニュー構成と高い操作性を実現しました。
目的と処理内容に応じて測定機能、データ処理機能、統計処理機能の3つのWing(サブプログラム)に分割し、シンプルなメニュー構成と高い操作性を実現しました。
粒度分布データ(Wing-1)
光強度分布データの重ね描き(Wing-2)
〈特許登録:3064910〉
三次元表示(Wing-3)
〈特許登録:2722866〉
測定原理
光源(紫外線半導体レーザ)から発せられたレーザビームはコリメータによって少し太い平行ビームに変換され、粒子群に照射されます。
粒子群から発せられた広角60度までの前方散乱光(回折・散乱光)はレンズによって集光され、焦点距離の位置にある検出面に同心円状の回折・散乱像を結びます。これを同心円状に受光素子が配置されたWing センサで検出されます。
前方だけでなく、側方や後方の散乱光も側方および後方散乱光センサで検出します。
このようにして検出された全ての方向の光強度データが「光強度分布データ」となり、この光強度分布データに基づいて粒度分布が計算されます。
粒子群から発せられた広角60度までの前方散乱光(回折・散乱光)はレンズによって集光され、焦点距離の位置にある検出面に同心円状の回折・散乱像を結びます。これを同心円状に受光素子が配置されたWing センサで検出されます。
前方だけでなく、側方や後方の散乱光も側方および後方散乱光センサで検出します。
このようにして検出された全ての方向の光強度データが「光強度分布データ」となり、この光強度分布データに基づいて粒度分布が計算されます。

